CSK-IA和CSK-IB试块的主要用途

   日期:2011-11-28     浏览:215    

CSK-IA和CSK-IB试块的主要用途

CSK-IA和CSK-IB试块的主要用途 
 
  1)利用厚度25mm测定探伤仪的水平线性、垂直线性和动态范围;
  2)利用厚度25mm和高度100mm调整纵波探测范围;
  3)利用R50和R100校定时基线或测定斜探头的入射点;
  4)利用高度85、91、100ram测定直探头的分辨力;
  5)利用中40、中44、中50ram曲面测定斜探头的分辨力;
  6)利用中50有机玻璃圆孔测定直探头盲区和穿透能力;
  7)利用中50曲面和巾1.5横孔测定斜探头的K值;
  8)利用高度9lmm(纵波声程9lmm相当于横波50mm)调节横波1:1扫描速度,配合R100作零位校正;
  9)、利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。

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